Фильтр Optolong O-III 6.5nm (1.25”)

Узкополосный фильтр 500 нм (кислород)
Артикул: 55007
Основной склад: Мало
Удаленный склад: Раскуплено (смотрите аналоги)
14 990


Особо узкополосный фильтр OIII-CCD 6.5 нм предназначен для наблюдения туманностей, пропуская полосу света шириной 6.5 нм с центром на длине волны 500 нм, что соответствует линиям излучения OIII (дважды ионизированный кислород). Фильтр уменьшает пропускание света вне полосы пропускания, в частности создаваемого источниками искусственного освещения, включая ртутные и натриевые лампы высокого и низкого давления, а также естественного свечения неба (skyglow).

OIII испускает на длинах волн 495.9 нм и 500.7 нм. Изображения многих планетарных туманностей и остатков сверхновых могут быть получены только с помощью фильтров H-alpha или OIII. Они показывают отличные структурные детали.

Основное применение

  • Подходит для визуального наблюдения эмиссионных туманностей, планетарных туманностей и остатков сверхновых через телескопы с крупной апертурой (от 200 мм)
  • (для телескопов с меньшей апертурой используйте фильтры с более широкой полосой: 12 или 18 нм)
  • Могут быть получены фотографии глубокого космоса с палитрой телескопа "Хаббл" (HST) при последовательной съёмке с фильтрами H-alpha, OIII-CCD и SII-CCD 
  • Узкополосный фильтр не увеличивает яркость объекта, он работает за счёт повышения контраста между туманностью и ночным небом 
  • Внимание. Фильтры Optolong не предназначены для прямых наблюдений Солнца. Обязательно используйте апертурный фильтр.

Оправа

  • Изготовлена из анодированного алюминиевого сплава с антибликовым покрытием
  • Внешняя резьба M28.5x0.6 для установки на 1.25" окуляры
  • Световой диаметр (диафрагма): 26 мм

Подложка/основа

  • Стекло марки Shott B270 толщиной 2 мм
  • Точность обработки поверхности λ/4 или лучше
  • Отклонение от параллельности не более 30 угловых секунд
  • Высокое качество поверхности "60/40" или лучше (спец. MIL-O-13830)

Оптическое покрытие

  • Равномерное нанесение методом ионного осаждения в вакууме
  • Долговечность и устойчивость к царапинам
  • Стабильность центральной длины волны (CWL) при изменениях температуры